製品仕様（Specifications）  

モデル名	1220band	Oband	ESband	SCband	CLband	Uband
波長可変範囲	1180-1270nm	1260-1370nm	1400-1530nm	1460-1570nm	1525-1630nm	1620-1680nm
光出力レベル*1	≧+3dBm	≧+3dBm	≧+3dBm	≧+3dBm	≧+3dBm	≧+0dBm
波長設定分解能	≦0.1pm
波長確度	≦±15pm（実力値：≦±5pm）
波長再現性	≦±5pm（実力値：≦±1pm）
スペクトラム線幅(代表値)	≦100KHz	≦50KHz
RIN(代表値)	≦-145dB/Hz
光出力フラットネス(代表値)	≦±0.2dB（APS機能：ON）
光出力安定度	≦±0.03dB（60min.）
周波数安定度	≦±100MHz（60min.）＝±0.8pm（波長安定度）
光出力可変機能	有（最大出力～－30dBm：設定分解能0.01dB）
光出力モニタ機能	有（光出力を表示画面上でモニタ可能）
内部低周波変調機能	有（コヒーレンスコントロール機能）
ビームシャッタ機能	有
出力ファイバ	偏波保持ファイバ
偏光状態	直線偏光、出力コネクタのキー方向、消光比≧20dB（代表値）
寸法	340W×450D×145H

※1： モデルにより高出力化が可能です。
※2： 記載内容は予告なく変更することがあります。

製品特長（Features）

■高純度で低ノイズなレーザ光を利用して

各種光部品、その他応用製品の特性を高ダイナミックレンジで測定することができます。

■低ノイズの利点を生かして

RIN特性が非常に良く被測定物の特性に影響を与えないので、光ファイバアンプ(EDFA等)のノイズ・フィギュア(NF)測定用光源に最適です。

※RINとは半導体レーザ自体が発生する強度雑音の指標であり、単位周波数当りの光強度雑音（光強度のゆらぎ）と平均光出力の比をとったものです。同じ光出力で 測定した場合、ノイズが大きくなるとRIN値は劣化します。光通信で信号の検出を確実に行なうためにはレーザ光源の出力光の揺らぎである雑音レベルを下げる必要があります。(RIN: relative intensity noise 相対強度雑音)

■狭線幅、短期周波数安定を生かして

スペクトラム線幅が30kHz以下ととても狭く、周波数も安定しているので光ビートを用いた測定に最適です。

※スペクトラム線幅とは波長の広がりを示したもので線幅が狭いほど単一波長性が高いことになります。レーザではいろいろな変動による発振周波数の揺らぎがスペクトラム線幅になります。 光通信では信号伝送時の雑音特性を低減するためレーザ発振スペクトルの時間的揺らぎであるスペクトラム線幅を抑制する必要があります。

※遅延自己ヘテロダイン法による測定のためスペクトルは実際の測定光の2倍の周波数広がりを持っています。そのため、線幅の値は表示値の1/2となります。

使用例（Applications）

■PCとの連携測定でスペクトラムアナライザでは実現できないダイナミックレンジの高い測定

• GP-IBインタフェースを備えていますのでPCやパワーメータと連携した測定を簡単に行うことが出来ます。
• スペクトラムアナライザでは実現できない高ダイナミックレンジでモジュールなどを測定することが出来ます。
• また、外部出力トリガを備えていますので他の計測器と同期を取った計測が可能です。

■ファイバセンサ用の光源として

低ノイズ、狭線幅、高安定度の優れた光学特性が光ファイバセンサ用の光源として最適です。